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数字式硅晶体少子寿命测试仪
简要描述：数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：ZD-LT-100C 为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。
产品型号： ZD-LT-100C
所属分类：专业仪器
更新时间：2024-10-01
厂商性质：其他
| 品牌 | 其他品牌 | 产地 | 国产 |
|---|
数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：ZD-LT-100C
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。
数字式硅晶体少子寿命测试仪该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次全国十多个单位巡回测试的考验，证明是一种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片进行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。
DZ-LT-100C有以下特点：
1、 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。
2、 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围 0.25μS—10ms
 | 产品名称：数显陶瓷弯曲强度试验仪 产品型号： SGW |
数显陶瓷弯曲强度试验仪 型号： SGW
本仪器适合GB6569-2006《精细陶瓷弯曲强度试验方法》，GB1965《多孔陶瓷抗弯强度试验方法》，于作机械部件、结构材料等高强度工程陶瓷在室温下三点弯曲强度的测定，也于玻璃、耐火材料、保温材料等非金属材料的弯曲强度(即抗折强度）测试.
主要技术参数：
1、zui大载荷：10000、20000、50000（N）；
2、加荷速度：5～700（N/S）可调；
3、数据微电脑处理，精度0.5%；
4、三相380V，1.5KW;
 | 产品名称：新宇宙 手持式可燃气体检测仪 可燃气体检测仪 产品型号：XP-311II |
新宇宙 手持式可燃气体检测仪 可燃气体检测仪型号：XP-311II
手持式可燃气体检测仪特点：
☆简洁方便的大按钮操作，一目了然的模拟指针式显示，更易于使用
☆基于成熟且成功的XP-311A，专为中国市场设计。更经济，更完善。
☆具有电量不足、传感器故障、泵故障报警提示功能
☆具有高/低量程切换功能
☆具有内置泵自动采样功能
☆具有零点调整功能
手持式可燃气体检测仪规格：
型 号XP-311II (带报警)
检测对象气体可燃性气体
检 测 原 理催化燃烧式
采 样 方 法内置泵自动吸引式
检 测 范 围0～10%LEL / 0～99%LEL
指 示 精 度满量程的±2%
报 警 设 定 值20%LEL
报 警 fang 式蜂鸣器鸣叫，红色报警deng闪烁
响 应 时 间10秒以内
使用温度范围-40°C～+70°C
电 源5号干电池4只
防 爆 结 构Exibd II BT3(本安防爆设计加隔爆)
尺 寸W79×H161×D43.5（mm）
重 量约480g（含电池）
附属品便携包、背带、4节5号干电池、橡胶头（AT-2）、排污过滤器（DF-112）、过滤片（2片）
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