污垢热阻测试仪用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性,通过改变电子器件的输入功率,使得器件产生温度变化,在变化过程中,测试出芯片的瞬态温度响应曲线,仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性,可以实现LED器件和组件的光热一体化测量。
仪器解决监测换热器难以准确测量污垢热阻值、污垢沉降速率 和不能直接观察污垢热阻变化全过程的这一难题,在这个基础上实现对整个水处理性能指标进行分析、比较、保存和打印各种曲线及报表等功能。当器件的功率发生变化时,器件的结温会从一个热稳定状态变到另一个稳定状态,我们的仪器将会记录结温在这个过程中的瞬态变化曲线。
一次测试,既可以得到稳态的结温热阻数据,也可以得到结温随着时间的瞬态变化曲线,瞬态温度响应曲线包含了热流传导路径中每层结构的详细热学信息(热阻和热容参数)。
一、主要功能:
1、准确测量污垢热阻和直接观察污垢热阻变化的全过程;
2、采用单片机作主机,减少外围部件,提高可靠性;
3、污垢热阻测试仪可对多项试验参数设定,适合多场合的试验要求;
4、同时显示瞬时污垢热阻测量值和沉降速率测量值,并以对应的4-20mA信号输出,输出采用模块化结构,功能配置方便灵活;
5、配有标准RS485通讯接口。
二、应用范围:
1、各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件;
2、各种复杂的散热模组的热特性测试,如热管、风扇等。