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塑料簿膜薄片测厚仪 型号： CH-12.7-STSX
技术参数：
分度值：0.01mm
测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）
执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技术参数：
分度值：0.01mm
测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）
执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技术参数：
分度值：0.01mm
测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）
执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技术参数：
分度值：0.01mm
测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）
执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技术参数：
分度值：0.01mm
测量范围与准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
用 途：于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（大测量深度为80mm）
执行 标 准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
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