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数显薄膜测厚仪 薄膜测厚仪TD-CH-12.7-STSX

发布时间: 2016-04-08  点击次数: 472次
 

数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号:TD-CH-12.7-STSX
分度值:0.001mm
测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(zui大测量深度为80mm)
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979

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