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淬火介质冷却性能测定仪
数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号:TD-CH-12.7-STSX分度值:0.001mm测量范围及准确度:0mm~12.7mm,≤0.005mm于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(zui大测量深度为80mm)GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
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