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金属薄膜方块电阻测试仪KDB-2B 仪器特点

发布时间: 2016-04-08  点击次数: 449次
 

KDB-2B为四探针法测量金属薄膜的方块电阻,该方法操作简单,测量。
仪器特点如下:
1、配有双数字表:一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更。
数字电压表量程:0—19.999mV 灵敏度:1μV 输入阻抗:1000ΜΩ
基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度) ;
2、方块电阻测量范围:1×10-5~1.9Ω/□;
3、电流量程分两档:100mA和1000mA。

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