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四探针测试仪 薄膜电阻测定仪 型号: SZT-2A

发布时间: 2016-01-19  点击次数: 586次
 


四探针 四探针测试仪 薄膜电阻测定仪 型号: SZT-2A
1.SZT-2A 主机采用的电路设计,所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影响机器寿命)。
2.屏幕采用液晶显示(一代为只有数码管显示)。
3.匹配电脑接口及软件,让操作简便明了化(可直接连接电脑,电脑进行自动运算根据输入厚度,自动比照并修正系数,使被测结果更,数据可储藏或删除,利于使用方保存记录)。
4.二代的测试架采用自动传感装置,接近被测物体时实行自动减速,避免了被测物体的损耗和探头的磨损(于国内市场上任何一款同类产品的测试架,老一代为手动)。 5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时,标准系数为机器自带自调,无需另外手工调整,省去了原仪器的诸多麻烦。
6. 本仪器的zui小分辨率为0.1mΩ
7.主机带有手自一体功能
8.测试探头为钨针,市场上多为高速钢针。
9.每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。
10.整机测量标准不确定度:≤ 2%(国内其它厂家误差为≤ 5% )
11. 技术参数:
1). 测量范围:
电阻率:10的-4次方~10的5 次方Ω-cm
方块电阻:10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□
电阻:10的-4次方 ~10的5 次方Ω
2). 可测半导体材料尺寸
直径:5mm-130mm
长度:≤400mm
3). 测量方法:
轴向、断面均可
4). 显示方式:41/2,数显,性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。
5). 恒流源:
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。
(2) 量程:10、100μA、1、10、100mA
(3) 误差:±0.5%读数±1个字
6).四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7).电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W
8) SZT-2A 分为带电脑接口和不带电脑接口的两种,带接口功能为当硅片的厚度<1mm时自动修正读数,使得测量出的数据准确率为99%,被测试的数据自动生成表格并可以打印,可以随时保存和删除.

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